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X 射線發(fā)射譜（X-ray Emission Spectroscopy, XES）是一種通過分析材料中X 射線發(fā)射過程中能量分布，深入研究物質電子結構和化學狀態(tài)的技術。

近日，JJ X-Ray首席執(zhí)行官Christian及應用專家與麥迪森科技團隊一行訪問了中國散裂中子源（CSNS），致力于解決用戶在使用位移臺產品過程中遇到的問題。

JJ X-Ray提供的CRL系統(tǒng)多采用拋物線形透鏡，可搭配五軸調整平臺（5 Axis Alignment Stage），實現對透鏡方向5個自由度的調節(jié)，即俯仰角（Pitch）、偏航角（Yaw）及X、Y、Z三個方向位置的調節(jié)。

在進行同步輻射相關實驗時，為了獲得較高的空間分辨率，通常需要利用聚焦元器件將X射線進行聚焦。

在同步輻射光源中，通常使用的是超高真空狹縫。X射線根據其光束模式一般可分為三類：白色光束（White Beam）、粉紅色光束（Pink Beam）和單色光束（Monochromatic Beam）。

本周四，JJ X-Ray公司應用專家孫兆宗博士在中國科學技術大學做了專題報告——“為同步輻射光源提供完整光束線解決方案”。

近日，JJ X-Ray在高能同步輻射光源（HEPS）現場順利交付一批狹縫產品，其中包括多種型號的空氣狹縫和超高真空狹縫，如IB-C30-AIR和IB-C30-UHV。

JJ X-Ray可提供在真空環(huán)境下使用的狹縫產品。

JJ X-Ray提供多種類型的狹縫。根據不同的使用環(huán)境，這些狹縫可分為空氣狹縫（AIR）、高真空狹縫（<10-5mbar）（High Vacuum, HV）和超高真空狹縫（<10-8mbar）（Ultra High Vacuum, UHV）。

同步輻射光源是指電子以接近光速在磁場中做曲線運動時，在切線方向上發(fā)射出的電磁輻射。